Scope
ICP-OES / ICP-MS / XRF
Chemical Analysis -- ICP & XRF Spectroscopy
Inductively coupled plasma (ICP) and X-ray fluorescence (XRF) are the workhorses of trace-element and bulk elemental analysis. ICP-OES and ICP-MS achieve parts-per-trillion detection limits for dissolved metals; XRF provides rapid, non-destructive elemental screening of solid samples. Together they cover regulatory requirements in RoHS, REACH, food safety, and environmental monitoring.
What it measures
- Trace metals and heavy elements (Pb, Cd, Hg, As, Cr, Ni…)
- Major and minor elemental composition
- RoHS restricted substances in materials
- Contaminants in food, water, and soil
- Alloy verification and positive material identification
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NF EN ISO 20045
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EDF - CNPE de Blayais
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EDF - CNPE de Paluel
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ISO 5667-8
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DIN EN ISO 9698
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EDF - Site de Fessenheim
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NF EN ISO 20045 et
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EDF SA - CNPE de Gravelines
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EDISON NEXT ENVIRONMENT
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DIN EN 14181
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EDISON ReGEA Srl
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DIN EN 1484
DIN EN 17892
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DIN EN 27888
EPA 1613
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in Appendix 5 of HSG 227 (2004)
guides HSG 264 (2012) and
(HSG 264, 2012)
EGEA ACQUE
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ISO 15705
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DIN EN ISO 11885
DIN EN ISO 15587-2
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EGIS INDUSTRIE ET PROCESS
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NF S 90-351
BS EN ISO 14644-1:2015
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